- 1
- 2
首頁 > 產(chǎn)品展示 > 德國菲希爾FISCHER > Fischer x-ray熒光測厚儀
xdlm 237 -菲希爾x射線熒光測厚儀代理 有三個型號：XDLM 231具有平面支撐臺，XDLM 232具有手動操作的X / Y臺。 XDLM 237配備了一個電動X / Y平臺，當(dāng)打開防護(hù)罩時，該平臺會自動移到裝載位置。
查看詳細(xì)介紹
無損鍍銀測厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
查看詳細(xì)介紹
*費(fèi)希爾x-ray xan x射線熒光測量儀 X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器，用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯（17）到鈾（92）范圍內(nèi)可同時測定多達(dá)24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
查看詳細(xì)介紹
XDAL237 X射線熒光測厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向，XDL系列測量儀器能夠進(jìn)行自動化的批量測試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測器不同組合的多種型號，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計上，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。
查看詳細(xì)介紹
xan500fischer德國* 手持式、臺式、在線： XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。
查看詳細(xì)介紹
便攜式x射線測厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用，也可以作為封閉式的臺式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后，XAN500同樣采用久經(jīng)考驗(yàn)的WinFTM軟件?；诨緟?shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析，還能測量鍍層厚度，并可實(shí)現(xiàn)無校準(zhǔn)（不需標(biāo)準(zhǔn)片）測量。
查看詳細(xì)介紹
德國FISCHER公司X-RAY熒光測厚儀 HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗(yàn)。 通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的精確處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER 公司的X射線儀器具有其*的特點(diǎn)
查看詳細(xì)介紹
德國Fischer x射線測厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。
查看詳細(xì)介紹
Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測厚儀 但是，如果合金中很多元素要測量或存在光譜重疊情況，那么配備半導(dǎo)體探測器的儀器，如XAN120，應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率，它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
查看詳細(xì)介紹
x射線鍍層與合金的材料分析儀 作為在生產(chǎn)測量中使用X射線熒光法的*驅(qū)，菲希爾很早就意識到此方法在鍍層厚度測量和材料分析領(lǐng)域的巨大潛力，因而開始研發(fā)和制造工業(yè)級耐用的測量儀器
查看詳細(xì)介紹共 10 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
17321369640
德國菲希爾FISCHER
菲希爾測厚儀