*費希爾x-ray xan x射線熒光測量儀
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220/222,X射線熒光測量儀,用于快速、無損分析黃金和銀合金,分析儀器,測量方向從下到上。用途廣泛。測量室全封閉,可以使用大準(zhǔn)直器分析,高計數(shù)率也可以被硅漂移探測器處理。激發(fā)和輻射檢測方式與XDV-SDD相同。它是金合金分析和塑料中有害物質(zhì)痕量分析的理想儀器.X射線熒光測量儀用于金銀合金快速無損分析及鍍層厚度測量,菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220是一種優(yōu)化的X射線熒光測量儀器,用于珠寶、硬幣和貴金屬的無損分析。它特別適合分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。在氯(17)到鈾(92)范圍內(nèi)可同時測定多達24種元素。FISCHERSCOPE X-RAY XAN 220和XAN 222符合DIN ISO 3497和ASTM B568。
產(chǎn)品特點:
? 菲希爾XAN220型X射線金屬材料分析儀為無損分析珠寶、錢幣和貴金屬特別優(yōu)化設(shè)計;
? 配備固定的準(zhǔn)直器和基本慮片,特別適用于貴金屬分析
? 配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),適用于更復(fù)雜的多元素分析
? 由下至上的測量方向,可以*簡便地實現(xiàn)樣品定位
應(yīng)用實例
所有菲希爾X射線系統(tǒng)的特點是具有出色的精度和長期穩(wěn)定性。重新校準(zhǔn)的必要性大大降低,節(jié)省了時間和精力?,F(xiàn)代硅漂移探測器實現(xiàn)了高精度和良好的檢測靈敏度。菲希爾的基本參數(shù)法允許在不進行校準(zhǔn)的情況下分析固體和液體樣品以及涂層系統(tǒng)。Xan220是一款用戶友好的臺式儀器。樣品定位快速方便。X射線源和半導(dǎo)體探測器組件位于儀器的下部,因此測量方向從樣品下方開始,樣品由透明窗口支撐。
珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析
測量黃金珠寶
合金分析: CuNiZn檢測
典型應(yīng)用領(lǐng)域包括
? 珠寶、貴金屬和牙科合金
? 黃白色黃金
? 鉑和銀
? 銠
? 合金和涂層分析
? 多層涂層分析
FISCHERSCOPE XAN 220 X射線熒光分析儀主要參數(shù):
預(yù)期用途....................... 能量色散X射線測量儀(ED XRF)用于分析貴金屬及其合金的成分和涂層厚度。
元素范圍....................... 硫S(16)至鈾U(92)–同時多達24種元素
重復(fù)性....................... 對于金≤0.5‰,測量時間60秒
設(shè)計....................... 臺式單元,帶有向上打開的罩
測量方向....................... 自下而上
X射線管....................... 帶鈹窗的微焦點鎢管
高電壓....................... 3 steps:30 kV,40 kV,50 kV;*大陽極電流:1 mA
光圈(準(zhǔn)直儀)....................... Ø 1 mm (39 mils), 可選Ø 2 mm (79 mils) or Ø 0.6 mm (23.6 mils)
測量點....................... Ø 1.2 mm (47 mils) with aperture Ø 1 mm (39 mils)平放樣品(測量距離0毫米)