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  Couloscope CMS2 STEP 測厚儀

  Couloscope CMS2 STEP 測厚儀 很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi)， 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定；基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。

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  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀

  cms2-step微電腦多功能電解測厚儀 庫侖法是一種簡單易行的電化學(xué)分析方法，可用于確定金屬涂層的厚度。 盡管該方法主要用于檢查電鍍涂層的質(zhì)量，但它也適用于檢測印刷電路板上剩余純錫的厚度。

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  cms2 step 電解多層鎳測厚儀可測電位差型

  cms2 step 電解多層鎳測厚儀可測電位差型 德國菲希爾 CMS2 STEP 庫侖測厚儀采用庫侖方法的鍍層測量儀，有中文操作系統(tǒng)，并且可以測量多層鎳厚度及電位差。大LCD 顯示器；帶鍵盤；預(yù)先定義大約100 種常用金屬鍍層；50 條存記錄用于特定應(yīng)用的參數(shù)和3000 個測量值。該價格包括電源電纜，塑料灰塵罩及操作手冊。

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