XDAL237 X射線熒光測(cè)厚儀 憑借電機(jī)驅(qū)動(dòng)(可選)與自上而下的測(cè)量方向,XDL系列測(cè)量?jī)x器能夠進(jìn)行自動(dòng)化的批量測(cè)試。提供 X 射線源、濾波器、準(zhǔn)直器以及探測(cè)器不同組合的多種型號(hào),從而能夠根據(jù)不同的測(cè)量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設(shè)計(jì)上,F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對(duì)應(yīng)。
查看詳細(xì)介紹xan500fischer德國(guó)* 手持式、臺(tái)式、在線: XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用,也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。
查看詳細(xì)介紹便攜式x射線測(cè)厚儀* XAN®500型X射線熒光儀器是菲希爾到目前為止功能多樣化的設(shè)備。它既可以作為手持式設(shè)備使用,也可以作為封閉式的臺(tái)式機(jī)或是直接整合到生產(chǎn)線中。在配備了平板電腦后,XAN500同樣采用久經(jīng)考驗(yàn)的WinFTM軟件。基于基本參數(shù)法的WinFTM軟件不僅能進(jìn)行材料分析,還能測(cè)量鍍層厚度,并可實(shí)現(xiàn)無(wú)校準(zhǔn)(不需標(biāo)準(zhǔn)片)測(cè)量。
查看詳細(xì)介紹德國(guó)Fischer x射線測(cè)厚儀 XULM 240代理 XULM特別適合測(cè)量細(xì)小的部件如連接器,觸點(diǎn)或線,也可以測(cè)量印刷線路板上的Au,Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測(cè)量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測(cè)量,20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。
查看詳細(xì)介紹Fischerscope x-ray xan120熒光x射線測(cè)厚儀 但是,如果合金中很多元素要測(cè)量或存在光譜重疊情況,那么配備半導(dǎo)體探測(cè)器的儀器,如XAN120,應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率,它也可以用來(lái)區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
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