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  fischerscope膜厚儀代理

  fischerscope膜厚儀代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。

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  德國菲希爾fischer xdl-230 鍍層膜厚測試儀

  德國菲希爾fischer xdl-230 鍍層膜厚測試儀 德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL 210/220/230/240是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

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  Fischer DUALSCOPE MPOR USB膜厚儀

  Fischer DUALSCOPE MPOR USB膜厚儀 MP0R USB涂層測厚儀它*的符合人類工程學設計的集成于儀器的恒壓測量探頭允許方便地單手操作，MP0RUSB漆膜測厚儀。

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  fischer膜厚儀

  fischer膜厚儀 ISOSCOPE®、 DELTASCOPE® 和DUALSCOPE® 手持式儀 器，配合各種探頭使用，可以簡單、快速地測量涂鍍層的厚度。FISCHERSCOPE® MMS® PC, 集成了磁感應法、渦流法和BETA背反射法的多功能測量系統(tǒng)，用于測量鍍層厚度和材料測試

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  Fischer膜厚儀探頭FKB10現(xiàn)貨代理

  Fischer膜厚儀探頭FKB10現(xiàn)貨代理 德國菲希爾Fischer膜厚儀探頭FKB10測量鋼或鐵基材料（NC / Fe或NF / Fe）上的非導電和非鐵磁性金屬涂層。 特別適用于厚涂層。 粗糙表面的測量精度高于單尖探針。

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  渦流探頭FAW3.3（ Fischer膜厚儀）

  渦流探頭FAW3.3（ Fischer膜厚儀） 篤摯儀器（上海）有限公司代理供應德國菲希爾Fischer便攜式測厚儀及測厚儀探頭，面對幾乎所有的工業(yè)應用，F(xiàn)ISCHER 都可以提供合適的探頭。這些都是針對各種不同的測量應用而定制的高精度裝置。經(jīng)過多年的不斷發(fā)展和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER已經(jīng)設計出了幾百種的探頭

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  fischer膜厚儀 （菲希爾）FMP10-40代理供應

  fischer膜厚儀 （菲希爾）FMP10-40代理供應 新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無損且高精度的涂鍍層厚度測量。無論是生產(chǎn)過程中的質量控制，還是在來料檢驗中的隨機抽檢和全檢，我們都會提供友好的用戶體驗和多樣的選擇來滿足您的需求。

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  江蘇fischer膜厚儀DeltaScope FMP30

  江蘇fischer膜厚儀DeltaScope FMP30 DELTASOOPE FF30菲希爾測厚儀是一 種超小型測量儀，DELTASCOPE FMP30菲希爾涂層測厚儀能快速、無損傷、精頦地進行鐵磁性金屬基體上的覆層厚度的測量。

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  Helmut Fischer膜厚儀探頭怎么選

  Helmut Fischer膜厚儀探頭怎么選介紹： 鍍層/底材的種類是選擇探頭重要的依據(jù)。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。

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  菲希爾如何選型

  菲希爾如何選型 上海篤摯儀器專業(yè)代理德國菲希爾測厚儀，F(xiàn)ISCHER提供便攜式測量儀器以滿足直接在工件上測量涂層厚度的幾乎所有需求，無論是簡單的、重復性的日常測量任務還是不規(guī)則幾何形狀上的復雜、多層應用。

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  fischer膜厚儀

  菲希爾FMP30 fischer膜厚儀 根據(jù)磁感應法和（或）電渦流法無損測量涂鍍層厚度。 ? 自動識別探頭和基材。 ? 堅固的外殼及高對比度大尺寸圖形顯示器。 ? 儀器操作簡單，具備多種統(tǒng)計評估能力。

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