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日本三豐mitutoyo SJ-210說(shuō)明書
日本三豐mitutoyo SJ-210說(shuō)明書能夠出色適用在檢測(cè)室、加工車間、生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)等場(chǎng)合，設(shè)計(jì)滿足客戶需求的緊湊型一體式表面粗糙度測(cè)量?jī)x。彩色液晶顯示器不僅能顯示計(jì)算結(jié)果和測(cè)量條件，還能顯示表面粗糙度波形。另外，大尺寸字體使其可見(jiàn)度更好。
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英國(guó)泰勒公司surtronic
英國(guó)泰勒公司surtronic DCA與AMETEK Taylor Hobson團(tuán)隊(duì)合作開(kāi)發(fā)其新的便攜式表面光潔度分析儀 - 新的Surtronic Duo。本產(chǎn)品由可分離的測(cè)量導(dǎo)線和通過(guò)無(wú)線藍(lán)牙鏈接連接的顯示單元組成
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磁吸力法機(jī)械式涂層鍍層麥考特測(cè)厚儀
磁吸力法機(jī)械式涂層鍍層麥考特測(cè)厚儀麥考特測(cè)厚儀又稱為麥考特測(cè)厚儀價(jià)格、麥考特測(cè)厚儀代理、麥考特測(cè)厚儀使用說(shuō)明、德國(guó)麥考特測(cè)厚儀、鍍鋅板測(cè)厚儀、機(jī)械式鍍層測(cè)厚儀、指針式涂層測(cè)厚儀、麥考特G6鍍層測(cè)厚儀、麥考特覆層測(cè)厚儀、 G6鍍層測(cè)厚儀價(jià)格、德國(guó)麥考特測(cè)厚儀、 NIFE50鍍層測(cè)厚儀、
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Bambino 2 現(xiàn)場(chǎng)用便攜式金屬硬度計(jì)
Bambino 2 現(xiàn)場(chǎng)用便攜式金屬硬度計(jì) 。這款獨(dú)立式測(cè)試儀無(wú)須其他顯示裝置、電纜或計(jì)算機(jī)硬件。有著輕巧而緊致設(shè)計(jì)的BAMBINO 是質(zhì) 量控制、來(lái)料檢驗(yàn)和全部產(chǎn)品測(cè)試的理想之選
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德國(guó)馬爾M系列便攜式粗糙度儀M400
德國(guó)馬爾M系列便攜式粗糙度儀M400 測(cè)量原理:探針接觸測(cè)量法，測(cè)尖gum 測(cè)力:0.7m n 過(guò)濾器類型:Gau-Filter, Ls-Filter 標(biāo)準(zhǔn):DIN/ISO/JIS/ASME/MOTIF
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日本三豐Mitutoyo SJ210粗糙度儀資料提供
日本三豐Mitutoyo SJ210粗糙度儀資料提供小型表面粗糙度測(cè)量?jī)x的**版猶如手動(dòng)工具般的簡(jiǎn)單、易于現(xiàn)場(chǎng)使用、便于攜帶的小型表面形狀測(cè)量機(jī)
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KRAUTKRAMER測(cè)厚儀-CL5/DM5E
KRAUTKRAMER測(cè)厚儀-CL5/DM5E CL5用于金屬和塑料部件的厚度測(cè)量。這些部件幾何形狀復(fù)雜，使用傳統(tǒng)的儀表通常無(wú)法準(zhǔn)確地檢測(cè)。通過(guò)使用可選的實(shí)時(shí)A-掃描
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鐵素體含量檢測(cè)儀測(cè)量原理
FeritScope FMP30鐵素體含量檢測(cè)儀測(cè)量原理鐵素體檢測(cè)儀測(cè)量原理為磁感應(yīng)原理在奧氏體或雙相鋼必須承受高溫、侵蝕性物質(zhì)以及高壓的情況下，鐵素體含量至關(guān)重要。特別是涉及到化工廠、能源設(shè)施及工廠中的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量時(shí)，F(xiàn)ISCHER 手持式設(shè)備的優(yōu)勢(shì)將非常顯著。
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日本進(jìn)口便攜式色差計(jì) CR-10 Plus
日本進(jìn)口便攜式色差計(jì) CR-10 Plus 美能達(dá)CR-10色差儀已經(jīng)停產(chǎn)，替代型號(hào)為CR-10 plus型色差儀，測(cè)量精度與CR-10老款色差儀保持*，但在很多方面進(jìn)行了升級(jí)。Konica Minolta的CR-10 Plus（CR-10升級(jí)款）色差儀一種便攜式，電池供電，手持式儀器，用于快速，準(zhǔn)確的顏色控制
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干膜儀麥考特MIKROTEST
干膜儀麥考特MIKROTEST 麥考特測(cè)厚儀又叫做Mikrotest鍍層測(cè)厚儀、麥考特涂層測(cè)厚儀、麥考特G6測(cè)厚儀、Mikrotest G6、電鍍鎳層測(cè)厚儀是MikroTest 的中文音譯
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BYK光澤儀-德國(guó)BYK-Gardner 4561/4562/4563
BYK光澤儀-德國(guó)BYK-Gardner 4561/4562/4563 新型BYK 4561智能的光澤60度測(cè)量多年來(lái)，BYK微型光澤儀已成為光澤測(cè)量不可超越的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。它是集高準(zhǔn)確度、使用簡(jiǎn)便和多功能于一體的光澤儀 – 為當(dāng)今品質(zhì)管理的標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)。
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fischer膜厚儀（菲希爾）FMP10-40代理供應(yīng)
fischer膜厚儀（菲希爾）FMP10-40代理供應(yīng) 新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無(wú)損且高精度的涂鍍層厚度測(cè)量。無(wú)論是生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制，還是在來(lái)料檢驗(yàn)中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會(huì)提供友好的用戶體驗(yàn)和多樣的選擇來(lái)滿足您的需求。
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taylor hobson泰勒霍普森便攜表面粗糙度儀
taylor hobson泰勒霍普森便攜表面粗糙度儀 Surtronic S-100系列是*耐用的便攜式表面粗糙度測(cè)量?jī)x，適用于車間、工業(yè)和檢測(cè)間的應(yīng)用。這一系列儀器在2013年9月發(fā)布，能夠?yàn)槟拇植诙葴y(cè)量需求提供多種解決方案，包括多樣化的系統(tǒng)和應(yīng)用相關(guān)的配件，并且能夠?yàn)槟奶厥庑枨蠖ㄖ乒ぱb。
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泰勒S116粗糙度儀
泰勒S116粗糙度儀 Surtronic S100系列是*耐用的便攜式表面粗糙度測(cè)量?jī)x，適用于車間、工業(yè)和檢測(cè)間的應(yīng)用。泰勒.霍普森 Surtronic S100 系列有兩種型號(hào)可供選擇：S116 粗糙度儀是標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品；S128則能夠提供提高測(cè)量范圍和分析能力。
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測(cè)厚儀MINITEST2100主機(jī)探頭零點(diǎn)樣板標(biāo)準(zhǔn)箔
測(cè)厚儀MINITEST2100主機(jī)探頭零點(diǎn)樣板標(biāo)準(zhǔn)箔 MINITEST1100 和 2100 型測(cè)厚儀，根據(jù)測(cè)頭類型的不同，分別運(yùn)用磁感應(yīng)和渦流原理測(cè)量覆層厚度，并符合以下工業(yè)標(biāo)準(zhǔn): DIN 50981、50982、50984；ASTM B499、B244；ISO 2178、2360； BS 5411。 DIN 50981 和 50984 已經(jīng)被 DIN EN ISO 2178 和 DIN EN
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SMP350電導(dǎo)率儀探頭FS40（標(biāo)準(zhǔn)試塊選配）
SMP350電導(dǎo)率儀探頭FS40（標(biāo)準(zhǔn)試塊選配）電導(dǎo)率是一個(gè)重要的材料屬性，不僅對(duì)金屬傳導(dǎo)電流的能力，也對(duì)其成分、微觀結(jié)構(gòu)和機(jī)械性能提供信息。使用SIGMASCOPE®SMP350可以簡(jiǎn)單快速并準(zhǔn)確地測(cè)定電導(dǎo)率。
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minitest 600b n2渦流測(cè)厚儀（EPK）
minitest 600b n2渦流測(cè)厚儀（EPK） MiniTest 600 B-F3 （存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)型，鐵基涂層,0-3000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um） MiniTest 600 B-N2 （存儲(chǔ)統(tǒng)計(jì)型，非鐵基涂層,0-2000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um）
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日本三豐進(jìn)口高度儀LH-600E / EG
日本三豐進(jìn)口高度儀LH-600E / EG 日本三豐進(jìn)口高度儀 LH-600E / EG ，2D測(cè)量系統(tǒng)，為方便用戶操作，可選擇多種信息語(yǔ)言包括英語(yǔ)、德語(yǔ)、法語(yǔ)、西班牙語(yǔ)、意大利語(yǔ)、荷蘭語(yǔ)、葡萄牙語(yǔ)、
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fischer（菲希爾）中國(guó) 庫(kù)侖測(cè)厚儀
fischer（菲希爾）中國(guó) 庫(kù)侖測(cè)厚儀作為測(cè)量鍍層厚度蕞簡(jiǎn)單的方法之一，庫(kù)侖法可以用于各種鍍層組合。尤其對(duì)于多鍍層結(jié)構(gòu)，當(dāng)允許破壞性測(cè)量時(shí)，它提供了一個(gè)比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
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API 進(jìn)口激光干涉儀（美國(guó)自動(dòng)精密工程）
API 進(jìn)口激光干涉儀（美國(guó)自動(dòng)精密工程）激光干涉儀產(chǎn)品具有測(cè)量精度高、測(cè)量速度快、、高測(cè)速下分辨率高、測(cè)量范圍大等優(yōu)點(diǎn)。通過(guò)與不同的光學(xué)組件結(jié)合，可以實(shí)現(xiàn)對(duì)直線度、垂直度、角度、平面度、平行度等多種幾何精度的測(cè)量。
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