- 1
- 2
德國菲希爾FISCHER
英國泰勒霍普森 Taylor Hobson
美國API
杭州思看
美國哈希代理
意大利哈納代理
德國馬爾Mahr
德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel
日本三豐 Mitutoyo
日本KETT
日本柯尼卡美能達(dá)KONICA MINOLTA
德國Qnix尼克斯
德國森薩帕特Sensopart
德國BYK
德國EPK
美國狄夫斯高 Defelsko
美國Mark-10測(cè)力計(jì)
美國Fluke 福祿克
美國雷泰 Raytek
美國SDI
美國FLIR 前視紅外熱像系統(tǒng)
美國Fluke福祿克
美國GE無損檢測(cè)
上海尚材 SCTMC
香港嘉儀CanNeed
宇舟 金相機(jī)械設(shè)備
北京時(shí)代 TIME
英國牛津Oxford
英國易高Elcometer
英國Renishaw雷尼紹
瑞士博勢(shì) Proceq
表面處理層無損檢測(cè)系統(tǒng)
首頁 > 產(chǎn)品展示 > >
無損鍍銀測(cè)厚儀 fischer x-ray xdl 230 能量散射X射線熒光光譜法（EDXRF）作為鍍層厚度測(cè)量和材料分析的方法，可用來定量和定性分析樣品的元素組成，也可用于鍍層和鍍層系統(tǒng)的厚度測(cè)量。無論是在實(shí)驗(yàn)室還是工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境中，這一方法都能完美勝任，并還可以與現(xiàn)代化設(shè)備一起發(fā)揮作用。
查看詳細(xì)介紹共 1 條記錄，當(dāng)前 1 / 1 頁 首頁 上一頁 下一頁 末頁 跳轉(zhuǎn)到第頁
17321369640
菲希爾測(cè)厚儀