電解退鍍 庫侖測(cè)厚儀菲希爾 cms2 step
STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemical Potential determination)（同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和化學(xué)電位差）的簡(jiǎn)寫， 是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測(cè)量方法。它可以同時(shí)測(cè)量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測(cè)量時(shí)用庫侖法來測(cè)量，電位差通過外面鍍一層 AgCl 的銀參比電極來測(cè)量。電壓曲線可以顯示在屏幕上，鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出。
為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測(cè)量結(jié)果，參比電極到工件的距離必須始終保持不變。 這個(gè)問題通過特殊的測(cè)量槽得到解決。銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個(gè)圓錐形的環(huán)狀電極，并作為測(cè)量槽底部的外殼與測(cè)量槽蓋連接。測(cè)量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變。
主要特性：
◇ 使用電解退鍍技術(shù)（庫侖法），同時(shí)測(cè)量鍍層厚度和電位差
◇ 圖形顯示的交互方式，菜單指引的操作提示，易于操作
◇ 適用性廣泛：可測(cè)量金屬和非金屬底材上的鍍層厚度
◇ 也適合測(cè)量多鍍層厚度
◇ 提供全面的附件產(chǎn)品供您選擇，可滿足特定需求
◇ 銀參比電極的簡(jiǎn)單準(zhǔn)備
◇ 可調(diào)節(jié)的電解電流
◇ 吸引人的設(shè)計(jì)，大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
◇ 電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
◇ 大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層和線材
菲希爾 COULOSCOPE CMS2 STEP 應(yīng)用：
STEP Test 是在允許腐蝕的情況下用來同時(shí)測(cè)量電位差和多層鎳的鍍層厚度， 該方法是這個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn)。 多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為這個(gè)目的而設(shè)計(jì)的，它操作簡(jiǎn)單，參比電極使用起來也不復(fù)雜，非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應(yīng)用。 電鍍鎳層用作電解保護(hù)和提高機(jī)器表面屬性，如硬度等。特別是汽車工業(yè)中，電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求。單一鎳層無法滿足該要求。因此，目前正在開發(fā)非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，其中包含兩層、三層甚至四層鍍鎳層，還有鉻或銅鍍層。
測(cè)量版本：
4種不同類型的測(cè)量臺(tái)適合于測(cè)量各種被測(cè)物體：
1）測(cè)量臺(tái)V18有1個(gè)新的測(cè)量槽設(shè)計(jì)。605-091
2）測(cè)量臺(tái)V24允許靈活定位小工件。600-7832
3）測(cè)量臺(tái)V26為簡(jiǎn)單和平面形狀物體而設(shè)計(jì)。600-783
4）測(cè)量臺(tái)V27主要為在線材上測(cè)量而設(shè)計(jì)。600-784
篤摯儀器（上海）有限公司致力于長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器，光學(xué)儀器、形狀類儀器，材料檢測(cè)儀器，涂裝與表面處理檢測(cè)儀器的銷售與維護(hù)服務(wù)。本公司有專業(yè)銷售和技術(shù)人員，為客戶提供方信守合同便，快捷的售前（演示設(shè)備、介紹新技術(shù)）售中（為客戶選型、滿足客戶要求），售后服務(wù)（設(shè)備維護(hù)、保養(yǎng)問題）在客戶需要的時(shí)候，我們的專業(yè)人員能夠即來到客戶現(xiàn)場(chǎng)，提供急需的服務(wù)。
篤摯儀器（上海）有限公司主營(yíng)檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國(guó)菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國(guó)泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>德國(guó)馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
==>>德國(guó)EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國(guó)艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國(guó)API XD系列激光干涉儀；
==>>美國(guó)GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國(guó)雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國(guó)Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>美國(guó)FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國(guó)奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長(zhǎng)儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長(zhǎng)機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
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