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菲希爾膜厚儀代理商fmp10+fgab1.3探頭 DELTASCOPE FMP10 可以測量鐵材或鋼材上非鐵磁金屬鍍層的厚度，例如：鉻、銅、鋅以及涂料、油漆、搪瓷和塑料鍍層。配FGAB1.3探頭量程可達2000μm，適用于電鍍、油漆、涂料等的厚度測量。
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進口鍍鉻厚度檢測儀DUALSCOPE FMP20+FD10 FISCHER儀器可以滿足不同行業(yè)中大多數(shù)的測量和分析需求。為了取得很好的測量準確度和準確性，在面對不同的測量需求時應選用相對應的測量方法:無論是磁感應法、電渦流法、BETA射線背散射法、庫侖法、微硬度測量法還是X射線熒光法，F(xiàn)ISCHER總能為您提供合適的測試技術。
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fischerscope膜厚儀代理 FISCHERSCOPE X-RAY XDL /XDLM系列與XUL/XUUM系列密切相關:兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。
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DUALSCOPE MP40+EDX10探頭測量雙層涂層 DUALSCOPE®MP40E-S是一款操作簡便的鍍層厚度測量和靈活的數(shù)據(jù)采集設備。DUALSCOPE MP40用EDX10探頭測量雙層（鐵上的漆層或漆層/鋅層）。MP40在一個類似于MP20的手持式儀器中結合了磁感應和渦流兩種方法。
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菲希爾磁感應探頭FGA2H原裝代理 探頭FGA2H適用于電鍍、涂料、油漆層的厚度測量。由于探針較大，也適用于表面比較粗糙的工件。測量鋼或鐵基材料（NC / Fe和NF / Fe）上的非導電和非鐵金屬涂層。 該探頭非常適合測量電鍍金屬和有機涂層厚度。 由于針尖大，探頭也非常適合在粗糙表面上進行測量。
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菲希爾（Fischer）MMS PC2多功能模塊測厚儀 FISCHERSCOPE MMS PC2具有數(shù)據(jù)采集和測量數(shù)據(jù)處理能力，是一臺結構小巧且適用范圍廣泛的多功能桌上測量系統(tǒng)。它既可以用來進行手動的樣品來料檢驗，也可以用于過程控制和對產品線進行24小時地監(jiān)控。
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德國菲希爾測厚儀探頭FTD3.3價格 面對幾乎所有的工業(yè)應用，F(xiàn)ISCHER 都可以提供合適的探頭。這些都是針對各種不同的測量應用而定制的高精度裝置。經過多年的不斷發(fā)展和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER已經設計出了幾百種的探頭，為的就是達到*精度的*佳測量結果。當然，F(xiàn)ISCHER還提供全面、專家級的咨詢服務,可以協(xié)助您根據(jù)任何給定的測量應用選擇合適的探頭。
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MiniTest 725/735/745測厚儀/FN1.5探頭 德國epk（ElektroPhysik）在表面處理行業(yè)的無損涂層測厚儀制造上有著超 過60年的悠久傳統(tǒng)。 典型應用于: 鐵基體上的非磁性涂層如油漆、清漆、搪瓷、鍍鉻和鍍鋅; 或者有色金屬上如銅，鋁，壓鑄鋅，黃銅 等的絕緣涂層如油漆、陽極氧化膜層或陶瓷。
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菲希爾小型便攜式鐵素體含量測試儀 FERITSCOPE®根據(jù)磁感應方法測量奧氏體和雙相鋼中的鐵素體含量。測量所有可磁化組織的截面，即，除了δ鐵素體之外，還測量例如應變誘發(fā)的馬氏體或其他鐵素體相。該儀器適合根據(jù)DIN EN ISO 17655進行測量。應用領域為現(xiàn)場測量，例如，奧氏體鍍層以及不銹鋼管，容器，鍋爐或其他由奧氏體或雙相鋼制成的產品中的焊縫。
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DUALSCOPE MP0R/ MP0R-FP袖珍式鍍鋅測厚儀 DUALSCOPE® MP0R 和 MP0R-FP 帶有一個集成探頭或一個延長型探頭，適用于測量幾乎所有金屬基材上的涂鍍層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是 可以直接用于現(xiàn)場可靠測量的理想設備。
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MMS Automation涂層厚度/電導率自動化測量 模塊化的測量系統(tǒng)FISCHERSCOPE®MMS®是自動化在線測量涂層厚度和材料測試的正確解決方案。由于接口的標準化，它可以快速集成到質量管理系統(tǒng)和自動化生產過程中。您是選擇在工業(yè)機器人用一個探頭測量
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電鍍層測厚儀phascope pmp10/pmp10 duplex PHASCOPE® PMP10主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進行質量控制。無論樣品表面是否平滑，PMP10都可以準確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度；它還能對印制電路板上的銅層厚度，甚至是孔內銅層的厚度進行測量。
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菲希爾代理FISCHERSCOPE UMP20/40/100 UMP20測量范圍： 0.5 mm - 508 mm，保持模式和凍結模式（可升級） UMP40回波-回波測量模式，按鍵發(fā)光和振動， 保持模式，凍結模式和聲速模式（可升級） UMP100彩色顯示實時波形， 數(shù)據(jù)儲存功能，按鍵發(fā)光和振動，保持模式，凍結模式和聲速模式（可升級）
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fmp30膜厚計氧化膜厚度測試儀 德國菲希爾手提式測厚儀可以用來無損、高精度測量涂鍍層厚度：德國Fischer手持式FMP系列儀器是基于磁感應法（DELTACOPE）、電渦流法（ISOSCOPE）和兩用方法（DUALSCOPE），并采用了可更換探頭的設計，非常適用于對涂鍍層進行無損測量。
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菲希爾兩用測厚儀fmp40（Fischer代理） FMP40 FMP20 FM30這些手持式儀器可輕松，快速，無損地測量涂層厚度，并具有所有FISCHER儀器所*的精度。 FMP10至FMP40可以連接70多個探頭。 因此，您甚至可以解決很復雜的測量任務。 測量范圍，真實性和可重復性精度取決于所連接的探頭。 該信息可以在相應的探頭數(shù)據(jù)表中找到。
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fischer smp350電導率儀中文操作說明 電導率是一個重要的材料屬性，不僅對金屬傳導電流的能力，也對其成分、微觀結構和機械性能提供信息。使用SIGMASCOPE SMP350可以簡單快速并準確地測定電導率。SIGMASCOPE SMP350 根據(jù)渦流相位法DIN EN 2004-1 和 ASTM E 1004 測量電導率。 這種方法允許無接觸測量
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費希爾庫倫儀（可測厚度及電位差） 該庫侖測厚儀多用于在多層鎳的質量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標準化 STEP 測試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。 鍍層厚度根據(jù)庫侖法得出， 而電位差則由一個鍍有 AgCl 的銀電極得到。
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德國菲希爾ump100超聲波壁厚測厚儀 篤摯儀器（上海）有限公司代理供應的德國菲希爾Helmut Fischer UMP150是一款高精度的超聲波測厚儀，用于準確地、無損地測量壁厚。它采用單晶探頭和高頻方波發(fā)生（30MHz），精度高達1μm。測量范圍高達0.1-500mm，且提供多種測量模式。
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菲希爾FGAB 1.3-Ni磁感應測鎳探頭 常用磁性探頭：FGAB1.3-Ni，測量范圍：0 - 2000μm，任何一個電磁測量系統(tǒng)的核心都會是探頭，其信號質量決定了計量方案的整體測量質量。 進過多年的研發(fā)和創(chuàng)新，F(xiàn)ISCHER現(xiàn)在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務中實現(xiàn)具有很高度的測量結果
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菲希爾（FISCHER）磁感應探頭FGAB 1.3 FGAB1.3探頭：FMP10、FMP30標準探頭：FGAB1.3是一款磁感應探頭，是DeltaScope FMP10和DeltaScope FMP30磁性測厚儀的標準探頭，*！FGAB1.3 ： 604-141帶微處理芯片的智慧型插入式磁感應探頭。若需要時，可修改存儲器。并有抗磨損涂層。
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