1 開/ 關(guān)儀器 說明:儀器沒有專門的開關(guān)。 打開儀器 - 當(dāng)儀器放在工件上時自動開啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上,顯示屏?xí)@示“Er6”,然后顯示四個水平短線而不顯示任何讀數(shù)。 - 另一種開機(jī)方法是按[OK]鍵。 請注意! 不要通過手指壓迫傳感器來開啟儀器!這樣可能會導(dǎo)致錯誤的測量結(jié)果。 關(guān)閉儀器/ 自動關(guān)閉 一分鐘不使用,儀器會自動關(guān)閉。(關(guān)閉= 儀器沒有任何顯示)。 2 測量涂鍍層厚度 1. 儀器開啟后,把儀器放在要測量工件上,等待儀器發(fā)出測量聲響。這種方式可以自動開啟儀器。 2. 把儀器提離工件。測量聲響后顯示讀數(shù)。說明:若太早提起儀器(未有聲響前),錯誤信息“Er6”會出現(xiàn)。重復(fù)步驟1。 3. 當(dāng)儀器已在開啟狀態(tài)時, 讀數(shù)會馬上顯示。儀器放在測量工件上及提起后均有顯示。 ? 3 顯示儀器內(nèi)儲存的測量數(shù)據(jù) 儀器多可以儲存999 個測量數(shù)據(jù)。 1. 用[?]鍵或[?]鍵可翻看測量數(shù)據(jù)。 2. 翻過第1個或者后一個測量數(shù)據(jù)后,屏幕將顯示“- - - - “并維持1 秒鐘左右。 任何時候您都可以繼續(xù)測量。 4 刪除所有測量數(shù)據(jù) 1. 按[?] 或[?]鍵。 2. 按[CAL]鍵。“del” 即刪除將顯示2 秒鐘。 3. 在“del”顯示的時候按[OK]鍵。儀器內(nèi)所有測量數(shù)據(jù)將被刪除。當(dāng)“del”不顯示的時候按[OK]鍵將無任何反應(yīng)。 5 歸一化 歸一化用來對測量儀器進(jìn)行調(diào)整。歸一化需要未鍍過的底材,而且底材的形狀和物料必須和被測量的工件一致。 說明:歸一化會刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。 歸一化儀器(前提: 儀器處于開啟狀態(tài)) 1. 按[CAL]鍵. 顯示"Base" (即“未鍍過的底材”).2. 在底材上測量五次左右每次測量后,會顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 3. 按兩次[OK] 鍵.屏幕顯示“Er17”,忽略它。完成歸一化程序 6 校準(zhǔn) 校準(zhǔn)需要有下面幾項東西:底材(形狀和底材物料要與待測部件一致)和一片標(biāo)準(zhǔn)片(儀器隨機(jī)的75 μm 左右標(biāo)準(zhǔn)片)。說明:校準(zhǔn)將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。 校準(zhǔn)儀器(前提:儀器必須打開) 1. 按[CAL]鍵。顯示"Base" (即“未鍍過的底材”) 2. 在底材上測量五次左右.每次測量后,會顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 3. 按[OK]鍵.顯示0.00 和STD1 (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片# 1). 4. 把校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上,并測量5 次左右。 每次測量后,屏幕上會顯示當(dāng)前讀數(shù)。 5. 用[?] 或[?]鍵調(diào)整第4 步的后一個數(shù)值至標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值, 如“75 μm”。標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值注明在標(biāo)準(zhǔn)片上。 6. 按[OK]鍵。 完成校準(zhǔn)程序. 儀器返回測量狀態(tài) 7 刪除校準(zhǔn)資料/ 恢復(fù)初始曲線 有時,如果經(jīng)過校準(zhǔn)后,儀器測量仍然不準(zhǔn)確,則可以刪除校準(zhǔn)參數(shù)。如果先前的校準(zhǔn)程序沒有正確進(jìn)行的話,就可能會發(fā)生這種情況。在這種情況下,可以把特征曲線恢復(fù)到原始的出廠設(shè)定。 刪除儀器的校準(zhǔn)參數(shù)(前提:儀器必須打開) 1. 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即“底材”) . 2. 在底材上測量5 次左右. 3. 按[OK]鍵. 顯示“STD1" (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片# 1) . 4. 在底材上測量1 次.屏幕將顯示0 左右的讀數(shù). 5. 用[?] 或[?] 鍵將STD1 調(diào)整到0.00 .屏幕將顯示“0.00 STD1” . 6. 按[OK] 鍵。恢復(fù)到初始的特征曲線?;謴?fù)完成。儀器現(xiàn)在可以測量了。 (僅供參考,請關(guān)注儀器版本,選擇對應(yīng)的操作手冊) |