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　　手持式的是磁感應原理，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。

 

　　臺式的熒光X射線膜厚儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。

 

　　尼克斯膜厚儀應用優(yōu)勢：

　　1、快速：一般測量一個樣品只需要10S～60S，樣品可不處理或進行簡單處理；

　　2、無損：物理測量，不改變樣品性質(zhì)；

　　3、準確：對樣品可以分析；

　　4、直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析速度快；

　　5、環(huán)保：檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。

 

　　熒光X射線尼克斯膜厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產(chǎn)品質(zhì)量控制提供準確、快速的分析。

 

　　尼克斯膜厚儀性能特點：

　　良好的射線屏蔽作用。

　　高分辨率探頭使分析結(jié)果。

　　測試口高度敏感性傳感器保護。

　　小孔準直器可以滿足微小測試點的需求。

　　采用高度定位激光，可自動定位測試高度。

　　定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊。

　　滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求。

　　高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm。

　　鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點。