產(chǎn)品目錄Products

德國(guó)EPK

產(chǎn)品中心Products

首頁(yè) > 產(chǎn)品展示 > 德國(guó)EPK > EPK涂層測(cè)厚儀 > MIKROTEST鍍層測(cè)厚儀全系列型號(hào)一覽

產(chǎn)品名稱：	MIKROTEST鍍層測(cè)厚儀全系列型號(hào)一覽
發(fā)布時(shí)間：	2024-09-04
產(chǎn)品品牌：	ElektroPhysik/德國(guó)EPK
產(chǎn)品特點(diǎn)：	MIKROTEST鍍層測(cè)厚儀全系列型號(hào)一覽將Mikortest麥考特G6測(cè)厚儀置于被測(cè)表面；將指輪向前旋轉(zhuǎn)到滿刻度以上部位（對(duì)于Nife50和Ni50是向前推到0位）。讓磁頭吸附在被測(cè)表面；按下按鈕，指輪會(huì)自動(dòng)地順時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直到磁頭跳起，刻度盤也隨之自動(dòng)停止轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)聽(tīng)到“呵噠" 一聲。此時(shí)，刻度盤上的讀數(shù)即為所測(cè)量覆層的厚度值

MIKROTEST鍍層測(cè)厚儀全系列型號(hào)一覽的詳細(xì)資料：

MIKROTEST鍍層測(cè)厚儀全系列型號(hào)一覽

MIKROTEST鍍層測(cè)厚儀全系列型號(hào)一覽

篤摯儀器專業(yè)從事計(jì)量檢測(cè)設(shè)備、理化分析儀器、清潔度檢測(cè)分析系統(tǒng)及物理量測(cè)儀表等產(chǎn)品的銷售代理及售后服務(wù)，擁有源自美國(guó)、英國(guó)、德國(guó)等多地區(qū)的合作伙伴，憑借專業(yè)、全面的產(chǎn)品資源和快速、可靠的服務(wù)，共同提供*適合用戶的定制化系統(tǒng)解決方案。歡迎在線留言或電詢！

一.型號(hào)：MIKROTEST 6G

1.測(cè)量范圍：0-100μm

２.讀值精度%：1μm或5%

３.讀數(shù)小測(cè)量區(qū)直徑mm：20

４.小半徑mm凸/凹：5/25

５.基體小厚度mm： 0.5

６.適合于工業(yè)使用：鋼、鐵上電鍍層漆、搪瓷、塑料

二. 型號(hào)：MIKROTEST 5/6F

１.測(cè)量范圍：0-1000μm

２.讀值精度%：3μm或5%

3.讀數(shù)小測(cè)量區(qū)直徑mm：30

４.小半徑mm 凸/凹：8/25

５.基體小厚度mm：0.5

６. 適合于工業(yè)使用：鋼、鐵上電鍍層漆、搪瓷、塑料、橡膠層

三．型號(hào) ：MIKROTEST 6 S3

１.測(cè)量范圍：0.2-3mm５

２.讀值精度%：5%

３.讀數(shù)小測(cè)量區(qū)直徑mm：30

４.小半徑mm 凸/凹：30

５.基體小厚度mm：15/25

６.適合于工業(yè)使用：鋼、鐵上電鍍層漆、搪瓷、塑料、橡膠層

四．型號(hào)：MIKROTEST 6 S5

１.測(cè)量范圍：0.5-5mm

２.讀值精度%：5% 讀數(shù)

３.小測(cè)量區(qū)直徑mm：50

４.小半徑mm 凸/凹：15/25

５.基體小厚：1.0

６.適合于工業(yè)使用：鋼、鐵上電鍍層漆、搪瓷、塑料、橡膠層

五．型號(hào)：MIKROTEST 6 S10

１.測(cè)量范圍：2.5-10mm

２.讀值精度%：5% 讀數(shù)

３.小測(cè)量區(qū)直徑mm：50

４.小半徑mm 凸/凹：15/25 50

５.基體小厚度mm：2.0

６.適合于工業(yè)使用：鋼、鐵上電鍍層漆、搪瓷、塑料、橡膠層

六．型號(hào)：MIKROTEST 6 S20

１.測(cè)量范圍：7.5-20mm

２.讀值精度%：5%

３.讀數(shù)小測(cè)量區(qū)直徑mm：100

４.小半徑mm 凸/凹：100/150

５.基體小厚度mm ：7.0

６.適合于工業(yè)使用：鋼、鐵上電鍍層漆、搪瓷、塑料、橡膠層

七．型號(hào)：MIKROTEST 6 Ni50

１.測(cè)量范圍：0-50μm

２.讀值精度%：1μm+5% 讀數(shù)３.

小測(cè)量區(qū)直徑mm：15

４.小半徑mm 凸/凹：5/25

５.基體小厚度mm ：／

６.適合于工業(yè)使用：非鐵質(zhì)基體上鍍鎳

八．型號(hào)：MIKROTEST 6 Ni100

１.測(cè)量范圍：0-100μm

２.讀值精度%：1μm+5% 讀數(shù)

３.小測(cè)量區(qū)直徑mm：15

４.小半徑mm 凸/凹：5/25

５.基體小厚度mm ：／

６.適合于工業(yè)使用：非鐵質(zhì)基體上鍍鎳

九．型號(hào)：MIKROTEST 6 NiFe50

１.測(cè)量范圍：0-50μm

２.讀值精度%：2μm+8%

３.讀數(shù)小測(cè)量區(qū)直徑mm：20

４.小半徑mm 凸/凹：10/25

５.基體小厚度mm ：0.5

６.適合于工業(yè)使用：鋼上電鍍鎳

麥考特MikroTest技術(shù)規(guī)格與選型
型號(hào)	測(cè)量范圍	測(cè)量精度	最小測(cè)量區(qū) 直徑	最小曲率半徑		基體厚度	適用范圍
型號(hào)	測(cè)量范圍	測(cè)量精度	最小測(cè)量區(qū) 直徑	凸	凹	基體厚度	適用范圍
MikroTest G	0～100μm	1μm或5%	20mm	5mm	25mm	0.5mm	鋼、鐵上電鍍層、漆、搪瓷、塑料、橡膠層
MikroTest F	0～1000μm	5μm或5%	30mm	8mm	25mm	0.5mm
MikroTest S3	0.2～3mm	5%	30mm	15mm	25mm	1.0mm
MikroTestT S5	0.5～5mm	5%	50mm	15mm	25mm	1.0mm
MikroTest S10	2.5～10mm	5%	50mm	15mm	25mm	2.0mm
MikroTest S20	7.5～20mm	5%	100mm	100mm	150mm	7.0mm
MikroTest NiFe50	0～50μm	2μm+8%	20mm	10mm	25mm	0.5mm	鋼上電鍍鎳層
MikroTest Ni50	0～50μm	1μm+5%	15mm	5mm	25mm	-	非鐵金屬基體上電鍍鎳層

簡(jiǎn)單操作說(shuō)明

一、應(yīng)用

型號(hào)不同的Mikrotest麥考特G6測(cè)厚儀，可無(wú)損傷地測(cè)量：

a、鐵上的所有非磁性涂層。如：鉻、銅、涂漆、橡膠等；

b、非鐵磁性基體上的電鍍鎳層；

c、鐵上的電鍍鎳層。

上述中的鐵基體均指的是商業(yè)未硬化鋼（St33到St60或C15到C45號(hào)鋼）

二、儀器簡(jiǎn)介

工作原理：Mikrotest麥考特依據(jù)磁吸引力原理。

測(cè)量磁鋼（3）與磁性基體（鋼或鎳）間的磁吸力與盤狀彈簧（6）的彈力平衡。盤狀彈簧的旋轉(zhuǎn)彈力的大小與涂層厚度直接相關(guān)。平衡臂（4）保證了各種方位的準(zhǔn)確測(cè)量（如在垂直面或仰面測(cè)量）。Mikrotest 6型測(cè)厚儀無(wú)需電池就可直接工作，Mikrotest 7型測(cè)厚儀則需要一節(jié)6V堿性電池。

三、配置

Mikrotest 6型（自動(dòng)型）測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置：手提繩、塑料盒及中英文說(shuō)明書(shū)各一；

Mikrotest 7型（自動(dòng)數(shù)顯型）測(cè)厚儀標(biāo)準(zhǔn)配置：手提繩、塑料盒、6V堿性電池（4LR44）及中英文說(shuō)明書(shū)各一。

四、測(cè)量

測(cè)量前，請(qǐng)仔細(xì)清除磁頭和測(cè)量點(diǎn)的油污和灰塵，以免影響測(cè)量結(jié)果。

使用Mikrotest 6型（自動(dòng)型）

如圖（1、2）所示，將Mikortest麥考特G6測(cè)厚儀置于被測(cè)表面；將指輪（5）向前旋轉(zhuǎn)到滿刻度以上部位（對(duì)于Nife50和Ni50是向前推到0位）。讓磁頭（3）吸附在被測(cè)表面；按下按鈕（9），指輪會(huì)自動(dòng)地順時(shí)針旋轉(zhuǎn)，直到磁頭跳起，刻度盤也隨之自動(dòng)停止轉(zhuǎn)動(dòng)，同時(shí)聽(tīng)到“呵噠" 一聲。此時(shí)，刻度盤上的讀數(shù)即為所測(cè)量覆層的厚度值。

注意：推動(dòng)指輪時(shí)，不能觸動(dòng)按鈕（9）；

指輪只能逆時(shí)針推動(dòng)，切勿順時(shí)針推動(dòng)。

用Mikrotest 7型（自動(dòng)數(shù)顯型）

如圖（3、4）所示，將Mikrotest麥考特置于被測(cè)表面，此時(shí)磁頭（3）會(huì)自動(dòng)吸附在待測(cè)表面；按下按鈕（9），儀器會(huì)發(fā)出“呵噠“一聲后自動(dòng)測(cè)量，三秒鐘后，會(huì)再次聽(tīng)到一聲“呵噠"響，同時(shí)指示燈（2）會(huì)發(fā)出綠光。此時(shí)，顯示器上所顯示的數(shù)值即為所測(cè)覆層的厚度。